变压器的空载试验,是从变压器的任一侧绕组施加正弦波额定频率的额定电压,其它绕组开路,测量变压器的空载损耗和空载电流的试验。空载电流以实测的空载电流I0占额定电流Ie的百分数来表示,记为IO。
当试验测得的数值与设计计算值、出厂值、同类型变压器或大修前的数值有显著差异时,应查明原因。
空载损耗主要是铁损耗,即消耗于铁心中的磁滞损耗和涡流损耗。空载时激磁电流流过原边绕组也要产生电阻损耗,如果激磁电流很小,可以忽略不计。空载损耗和空载电流,取决于变压器的容量、铁心构造、硅钢片的制造和铁心制造工艺等因素。
导致空载损耗和空载电流增大的原因主要有:硅钢片间绝缘不良;某一部分硅钢片短路;穿芯螺栓或压板、上轭铁以及其它部分的绝缘损坏而形成短路匝;磁路中硅钢片松动,甚至出现气隙,使磁阻增大(主要使空载电流增大);磁路由较厚的硅钢片组成(空载损耗增加而空载电流减小);采用了劣质的硅钢片(多见于小型配电变压器);各种绕组缺陷,包括匝间短路、并联支路短路,各并联支路中匝数不同及安匝数取得不正确等。此外,由于磁路接地不正确等原因,也会引起空载损耗和电流的增大。对于中小型变压器,在制造过程中,铁心接缝的大小会显著影响空载电流。
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